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埃美特(廈門)科(kē)技(jì )有(yǒu)限公(gōng)司成立于2015年,公(gōng)司主要從事全自動掃描平台、自動顯微鏡、自動顯微影像掃描系統、精(jīng)密定位産(chǎn)品、工(gōng)業自動化設備的研發及産(chǎn)業化。
公(gōng)司依托哈爾濱工(gōng)業大學(xué)等高校,開發出具(jù)有(yǒu)國(guó)際領先的精(jīng)密位移平台,XYZ重複定位精(jīng)度可(kě)以達到0.5um,可(kě)以搭載各類顯微成像系統,實現産(chǎn)品圖像的精(jīng)準定位及采集。公(gōng)司自主研發的接觸式測量設備,可(kě)以實現納米級非接觸式測量,可(kě)廣泛應用(yòng)于半導體(tǐ)領域Wafer 測量及科(kē)研領域精(jīng)密測量。
公(gōng)司擁有(yǒu)一支年輕的算法團隊,配合我司的精(jīng)密影像采集系統,能(néng)夠出色完成各類視覺産(chǎn)品的缺損檢測、産(chǎn)品分(fēn)類。
公(gōng)司依托哈爾濱工(gōng)業大學(xué)等高校,開發出具(jù)有(yǒu)國(guó)際領先的精(jīng)密位移平台,XYZ重複定位精(jīng)度可(kě)以達到0.5um,可(kě)以搭載各類顯微成像系統,實現産(chǎn)品圖像的精(jīng)準定位及采集。公(gōng)司自主研發的接觸式測量設備,可(kě)以實現納米級非接觸式測量,可(kě)廣泛應用(yòng)于半導體(tǐ)領域Wafer 測量及科(kē)研領域精(jīng)密測量。
公(gōng)司擁有(yǒu)一支年輕的算法團隊,配合我司的精(jīng)密影像采集系統,能(néng)夠出色完成各類視覺産(chǎn)品的缺損檢測、産(chǎn)品分(fēn)類。
我公(gōng)司承諾:以人為(wèi)本,誠信服務(wù)!努力做到精(jīng)益求精(jīng),滿足客戶要求,以優價購(gòu)買優質(zhì)産(chǎn)品!為(wèi)廣大客戶提供更多(duō)選擇!為(wèi)選擇我們的客戶提供更優的産(chǎn)品!